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<A.SLC25A13遺伝子内の日本人における高頻度変異について>

 シトリン欠損症の原因遺伝子であるSLC25A13には高頻度遺伝子変異が存在し、6種の変異(3種は点変異、3種は欠失/重複変異)で下の表に示すように、日本人の変異アレルの91%を説明可能です(Tabata A, J Hum Genet, 53:534,2008)。この6種の変異にmutation I〜V, XIXの名前が付けられています。理論的には、シトリン欠損症患者の約83%では両アレルの変異を検出可能で、約16%では一方のアレルの変異のみ検出し、約1%ではいずれのアレルの変異も検出できない事が推測されます。



<B.解析方法>

東北大学医学部小児科学教室では、上述の日本人高頻度遺伝子変異6種類の有無をスクリーニングする迅速診断システムを確立しました。方法は、Real-time PCR法による融解温度曲線解析によります。

1)Mutation I〜V
初めに変異部を含む領域を1対のPCR Primerにて増幅しました。次に、変異部のDNA配列に相補的な蛍光標識したオリゴヌクレオチド(ハイブリ・プローブ)とPCR産物との結合状態を融解温度曲線法により分析しました。反応液の温度を横軸に、プローブDNAの融解速度を縦軸にとり、融解曲線を解析する事で遺伝子型を決定しました。最も高頻度に認められるMutation IIの検出例を下の図に示します。

2)Mutation XIX
初めに正常アレルと変異アレルの両方を計3本のPCRプライマーで増幅しました。次に、2種類のPCR産物にそれぞれ特異的な蛍光標識プローブの結合により、増幅されたPCR産物を識別することで遺伝子型を決定しました。判別のため、プローブの融解温度を変えています。


<図 シトリン欠損症Mutation IIの検出例>

正常アレルからは58℃付近に、変異アレルからは50℃付近にピークが生成される。従って、野生型ホモ接合体の場合58℃で単一ピークとなり、ヘテロ接合体の場合50℃と58℃との二峰性ピークとなる。変異ホモ接合体の場合は、50℃で単一ピークを示す。

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